 |
LABORATOR DIFRACTIE RX |
| Scurta descriere a activitatii laboratorului. | TOP |
Laboratorul Difractie RX s-a infiintat in anul 2008 in cadrul Departamentului de Materie Condensata, departament a carui activitate principala este sinteza de materiale avansate cristaline. Venind in intampinarea necesitatilor impuse de determinarea compozitiei, gradului de cristalinitate si a structurii cristaline a materialelor obtinute, laboratorul dispune de un echipament performant de ultima generatie, X’Pert PRO MPD. Asistat de o serie de componente optice si suporturi pentru diverse tipuri de probe, X’Pert PRO MPD se poate configura pentru obtinerea metodei de difractie necesare in functie de materialul studiat.
Desi recent infiintat, laboratorul este in curs de atestare, propunandu-si in perioada urmatoare dezvoltarea la maxim a potentialului echipamentului prin specializarea personalului, atragerea de noi parteneriate si servicii, nu in ultimul rand promovarea si implicarea studentilor si masteranzilor in activitatea laboratorului.
| Tehnici de analiza si caracterizare utilizate in cadrul laboratorului. Difractia de raze X. | TOP |
Difractometru cu raze X
Producator: PANalytical, Olanda |
Caracteristici tehnice:
Accesorii:
Soft:
|
Aplicatii in:
- analiza si identificarea structurii cristaline a materialelor sub forma de pulbere la temperatura ambianta;
- analiza si identificarea structurii cristaline a materialelor sub forma de pulbere in functie de temperatura ( -193°C ÷ 2000 °C) si compozitia gazului (aer, gaze inerte, oxigen) (in curs de dezvoltare);
- studiul structurii cristaline, a densitatii si grosimii straturilor subtiri; (in curs de dezvoltare);
- studiul deformarii materialelor prin analize de stres (in curs de dezvoltare);
- studiul orientarilor cristalitelor intr-un material (in special pentru metale si ceramici) prin analize de textura (in curs de dezvoltare);
- analiza si identificarea structurii cristaline a compusilor organici utilizand difractia de RX prin transmisie; (in curs de dezvoltare);
- analiza si identificarea structurii cristaline a materialelor nanometrice.
Caracteristicile probelor analizate:
- Materiale cristaline sau semicristaline sub forma de pulbere sau monocristal;
- Filme subtiri, filme pe substrat, metale (in curs de dezvoltare).
| Rezultate: | TOP |
Spectru de difractie al unui material policristalin de tipul Si0.97Sn0.03O2
 |
 |
Un spectru de difractie cu fluorescenta, cu si fara monocromator fascicul difractat pentru detector PIXcel pentru o proba de ferita.
| O scurta descriere a tehnicii: |
Difractia de raze X este o tehnica nedistructiva care permite obtinerea de informatii precise despre compozitia chimica si structura cristalina a materialelor naturale si de sinteza. Principiul de baza al acestei metode este studiul legaturii dintre imprastierea radiatiei X si asezarea in spatiu a atomilor.
Daca trimitem un fascicul de radiatii X pe un ansamblu de atomi, norii lor electronici vor interactiona cu unda incidenta, imprastiind-o. La imprastierea radiatiei pe un corp dat se produce atat imprastierea elastica, care are loc fara pierdere de energie si fara modificarea lungimii de unda λ, cat si imprastierea neelastica. Rolul principal este jucat de imprastierea elastica deoarece aceasta determina figura de difractie, a carei analiza permite stabilirea plasarii atomilor in material. Difractia pe cristale poate fi interpretata ca o “reflexie” a radiatiilor X pe planele retelei cristaline.
“Reflexia” se produce numai atunci cand undele, imprastiate de planele paralele, se afla in faza si se amplifica una de alta, adica daca diferenta de drum obtinuta prin imprastiere de pe planele vecine este egala cu un numar intreg n de lungimi de unda:
Aceasta este formula lui Wulf-Bragg, care face legatura intre directia de propagare a fasciculelor imprastiate (unghiurile θ) si distantele dintre planele dhkl din retea, n fiind ordinul reflexiei. Daca aceasta conditie nu se realizeaza, atunci, datorita existentei in cristal a unui numar foarte mare de plane, diferentele de faza, care fac sa apara reflexia pe ele, duc la stingerea totala a fasciculelor imprastiate sub orice alte unghiuri, diferite de cel dat de conditia lui Wulf-Bragg.
 |
 |
| Spectru de difractie al cuartului | Dispunerea in spatiu a atomilor |
| Servicii: | TOP |
- Studiul structurii cristaline prin difractie de raze X;
- Training primar in difractie de raze X.
| Contact: | TOP |
| Sef laborator: | Responsabil Aparat: |
|
0256494413, int. 108 Str. Plautius Andronescu Nr.1 |
0752197756 Str. Plautius Andronescu Nr.1 |