LABORATOARE \ DIFRACTIE RX

box
LABORATOR DIFRACTIE RX

 

Scurta descriere a activitatii laboratorului. TOP

Laboratorul Difractie RX s-a infiintat in anul 2008 in cadrul Departamentului de Materie Condensata, departament a carui activitate principala este sinteza de materiale avansate cristaline. Venind in intampinarea necesitatilor impuse de determinarea compozitiei, gradului de cristalinitate si a structurii cristaline a materialelor obtinute, laboratorul dispune de un echipament performant de ultima generatie, X’Pert PRO MPD. Asistat de o serie de componente optice si suporturi pentru diverse tipuri de probe, X’Pert PRO MPD se poate configura pentru obtinerea metodei de difractie necesare in functie de materialul studiat.
Desi recent infiintat, laboratorul este in curs de atestare, propunandu-si in perioada urmatoare dezvoltarea la maxim a potentialului echipamentului prin specializarea personalului, atragerea de noi parteneriate si servicii, nu in ultimul rand promovarea si implicarea studentilor si masteranzilor in activitatea laboratorului.

 

Tehnici de analiza si caracterizare utilizate in cadrul laboratorului. Difractia de raze X. TOP

Difractometru cu raze X
X’Pert PRO MPD

Difractometru

Producator: PANalytical, Olanda

Caracteristici tehnice:

  • Sursa de raze X: tub de raze X special cu izolatie ceramica, focalizare fina in linie si anod de Cu;
  • Goniometru: vertical theta-theta;
  • Detector: PIXcel;
  • Suport de proba: pentru lucrul in reflexie si transmisie cu rotire a probei.

Accesorii:

  • Monocromator hibrid cu dubla reflexie pentru eliminarea radiatiei Cu K α 2;
  • Monocromator fascicul difractat pentru detector PIXcel pentru eliminarea radiatiei K β si reducerea efectului de fluorescenta a probelor;
  • Modul pentru masuratori in transmisie pentru probe in capilar;
  • Camera de temperature inalta HTK 2000 (pana la 2000 ˚C);
  • Modul pentru masuratori de textura si stress rezidual (in curs de dezvoltare);
  • Modul pentru masuratori de reflectivitate si filme subtiri (in curs de dezvoltare);
  • Modul pentru masuratori in transmisie (in curs de dezvoltare);
  • Modul pentru difractie de retroimprastiere la unghiuri mici (SAXS) (in curs de dezvoltare);
  • Camera de temperature joasa TTK 450 (-193˚C pana la 450 ˚C) (in curs de dezvoltare);
  • Camera de reactie XRK 900 (20˚C pana la 900 ˚C in vid, mediu inert si oxidant) (in curs de dezvoltare);

Soft:

  • X’Pert Data Collector;
  • X’pert HighScore Plus;
  • ICDD-PDF-4+;
  • X’Pert Stress;
  • X’Pert Texture;
  • X’Pert Reflectivity;
  • SAXS

Aplicatii in:

Caracteristicile probelor analizate:

Rezultate: TOP


rez1

Spectru de difractie al unui material policristalin de tipul Si0.97Sn0.03O2

rez2 rez3

Un spectru de difractie cu fluorescenta, cu si fara monocromator fascicul difractat pentru detector PIXcel pentru o proba de ferita.

O scurta descriere a tehnicii:


Difractia de raze X este o tehnica nedistructiva care permite obtinerea de informatii precise despre compozitia chimica si structura cristalina a materialelor naturale si de sinteza. Principiul de baza al acestei metode este studiul legaturii dintre imprastierea radiatiei X si asezarea in spatiu a atomilor.

Daca trimitem un fascicul de radiatii X pe un ansamblu de atomi, norii lor electronici vor interactiona cu unda incidenta, imprastiind-o. La imprastierea radiatiei pe un corp dat se produce atat imprastierea elastica, care are loc fara pierdere de energie si fara modificarea lungimii de unda λ, cat si imprastierea neelastica. Rolul principal este jucat de imprastierea elastica deoarece aceasta determina figura de difractie, a carei analiza permite stabilirea plasarii atomilor in material. Difractia pe cristale poate fi interpretata ca o “reflexie” a radiatiilor X pe planele retelei cristaline.
“Reflexia” se produce numai atunci cand undele, imprastiate de planele paralele, se afla in faza si se amplifica una de alta, adica daca diferenta de drum obtinuta prin imprastiere de pe planele vecine este egala cu un numar intreg n de lungimi de unda:

nλ=2dhkl sinθ

Aceasta este formula lui Wulf-Bragg, care face legatura intre directia de propagare a fasciculelor imprastiate (unghiurile θ) si distantele dintre planele dhkl din retea, n fiind ordinul reflexiei. Daca aceasta conditie nu se realizeaza, atunci, datorita existentei in cristal a unui numar foarte mare de plane, diferentele de faza, care fac sa apara reflexia pe ele, duc la stingerea totala a fasciculelor imprastiate sub orice alte unghiuri, diferite de cel dat de conditia lui Wulf-Bragg.

img002 img003
Spectru de difractie al cuartului Dispunerea in spatiu a atomilor

 

Servicii: TOP
Contact: TOP

 

Sef laborator: Responsabil Aparat:

0256494413, int. 108

Str. Plautius Andronescu Nr.1

0752197756

Str. Plautius Andronescu Nr.1