LABORATOARE \ MICROSCOPIE ELECTRONICA SI OPTICA

box
LABORATOR MICROSCOPIE ELECTRONICA SI OPTICA

 

 TEHNICI DE ANALIZA:
 
 

 

Scurta descriere a activitatii laboratorului. TOP

Laboratorul de Microscopie electronica si optica s-a infiintat in anul 2007 in cadrul Departamentului de Materie Condensata, departament a carui activitate principala este sinteza de materiale avansate cristaline.
Venind in intampinarea necesitatilor impuse de determinareacompozitiei elementale (EDAX), topografie (microscopie optica si electronica), rugozitatea, analiza dimensionala (granulometru) a materialelor obtinute, laboratorul dispune de un echipament performant de ultima generatie Microscop electronic de baleiaj (SEM) Inspect S, Microscop de forta atomica (AFM) si Microscop de tunelare (STM) NanosurfR EasyScann 2, Analysette 22 FRITSCH.
Desi recent infiintat, laboratorul este in curs de atestare, propunandu-si in perioada urmatoare dezvoltarea la maxim a potentialului echipamentului prin specializarea personalului, atragerea de noi parteneriate si servicii, nu in ultimul rand promovarea si implicarea studentilor si masteranzilor in activitatea laboratorului.

 

Tehnici de analiza si caracterizare utilizate in cadrul laboratorului. TOP

 

Microscop electronic de baleiaj TOP

Microscop electronic de baleiaj Inspect S

Producător: FEI Company, Olanda

Caracteristici tehnice:

Sursa: Filament de wolfram montat in ansamblul tun electronic de tip tetroda
Tensiune: 200 V la 30 kV
Curent fascicul > 2μA
Rezolutie: 3.0 nm pe specimenul standard
10 nm la 3 kV in modul high-vacuum
<12 nm la 3 kV in modul low-vacuum
Domeniu focalizare 3-99 mm
Marire: 6x  > 1,000,000x Camp de vizualizare: identic in high si low-vacuum (18 mm la cea mai mare distanta de lucru).

Aplicatii:

Microscopia electronica de baleiaj permite investigarea:

  • materialelor metalice;
  • materialelor ceramice;
  • materialelor polimerice;
  • materialelor compozite;
  • materilelor sub forma de pulberi si straturi;
  • implantelor si protezelor;
  • materiale textile, celuloza.

Caracteristicile probelor analizate:

  • probele analizate trebuie sa fie conductoare,
  • probele neconductoare sunt acoperite cu un strat subtire de metal conductor (Au, Ag, Pt).

Rezultate:



Morfologia suprafetei

Spectru EDAX

Scurtă descriere a tehnicii de lucru:

Microscopul electronic de baleiaj este utilizat pentru analiza calitativa (imagistica) si cantitativa (EDAX- spectromertu cu dispersie dupa energie) a materialelor. Pot fi analizate probe conductoare si/sau probe preparate prin metode conventionale (acoperite).
Tehnicile de microanaliza cu radiatii X folosesc radiatiile X generata de o proba bombardata cu electroni pentru identificarea constituentilor elementari din compozitia chimica a probei.

Contact:

Persoana responsabilă de aparat:

Microscop de Forţă Atomică (AFM) şi Microscopul de tunelare (STM) TOP

Producător: Nanosurf® EasyScan 2

Caracteristici tehnice:

  • Suprafata de scanare maxima: 2048x2048 puncte
  • Posibilitatea de- rotire a imaginii: 0° - 360°
  • Afisarea simultana a graficelor (grafic simplu, harta colorata, vizualizare tridimensionala)
  • Procesarea datelor: fitare polinomiala, derivare, etc.
  • Functii pentru evaluarea distantelor, unghiurilor, finetii suprafetei
  • Export de date in diferite formate (bmp, ascii, csv, etc)

 

Accesorii

Microscopul de Forţă Atomică (AFM)

Moduri de operare ale AFM-ului: Modul Contact
Modul Tapping
Modul Non-Contact
Cap de scanare de 10μm distanta maxima de scanare: 10μm2 (toleranta +/- 15%)
distanta maxima pe verticala: 2μm
rezolutia in planul XY 0.15 nm
rezolutia pe verticala 0.027 nm
Cap de scanare de 110μm distanta maxima de scanare: 110μm2 (toleranta +/- 10%)
distanta maxima pe verticala: 22μm
rezolutia in planul XY 1.7 nm
rezolutia pe verticala 0.34 nm

Microscopul de tunelare (STM)
Capul de scanare de 500 nm distanta maxima de scanare 500 nm,
distanta maxima pe Z 200n
rezolutia pe axa Z 3 p
rezolutia in planul XY 7.6 pm

Aplicatii:

  • filme subţiri
  • pulberi
  • monocristale
  • rugozitatea suprafeţei scanate
  • număr particule
  • analiza particulei
  • diametrul particulei
  • înalţimea medie a particulei
  • volumul unei particule
  • aria unei particule

Rezultate:

Măsuratori AFM, Modul de lucru Contact

Masuarea si calcularea dimensiunilor si volumului defectelor dintr-o retea cristalina



 


Măsuratori AFM, Modul de lucru Non-Contact

Studiul topografiei suparfetei filmelor subtiri

Reprezenatrea tridimensionala a unei suprafete studiate cu ajutorul softului NanoSurf EasyScan2

Masuratori STM



Reprezentarea bidimensionala a unei suprafete
Reprezenatrea tridimensionala a suprafetei studiate cu ajutorul softului NanoSurf EasyScan2

Descrie a tehnicii:

Microscopul de forţă atomică (AFM) şi Microscopul de tumelare (STM) permite vizualizarea directa a suprafetelor pana la nivel atomic, otinundu-se astfel informati utile in ce priveste dependenta structurii suprafetei in functie de metoda de obtinere.

Persoana responsabila de aparat:
Granulometrie TOP

Analysette 22

Producator: FRITSCH GmbH – Milling and Sizing

Caracteristici tehnice:
dimensiunea particulelor analizate: ( 0,1 ÷  1250) μm
prelucrare automata a datelor

Aplicatii:
Utilizat in determinarea granulatiei particulelor aflate insolutii coloidale in apa, alcool, benzine, uleiuri minerale si organice, formaldehyda

Descriere a tehnicii:
Proba sub forma de solutie se introduce intr-o cuveta transparenta. O raza laser care trece prin solutie da o figura de difractie pe o placa cu senzori.Din analiza automata a figurii de difractie se obtine dispersia dimensionala a particulelor din solutie precum si distributia lor volumica.

Contact:

Persoana responsabilă de aparat:


Str. Plautius Andronescu Nr.1

 

Contact: TOP

Sef laborator:
Str. Plautius Andronescu Nr.1